型號

 帕納科

X’Pert PRO

主要規格

及技術指標

功率：3Kw

測角儀重現性：0.0001度

發散度：<0.01度

最小步長<0.0001度

測角儀的精確度<0.0001度

材料要求

主要功能

及應用范圍

 高級材料科學和納米技術，半導體材料研究和生產質量控制，可以適用各種應用，尤其適合薄膜分析，例如： 搖擺曲線分析和倒易空間Mapping， 反射率和薄膜相分析，殘余應力和織構分析， X'Pert PRO MRD/ XL 滿足半導體、LED、薄膜和高級工業材料的所有高分辨XRD分析需要。

收費標準

廣角測試（5-90度）        50元/樣

小角測試（0.5-5度）        100元/樣