型號

日本電子 JEM-2010

主要規格

及技術指標

分辨率：點分辨率≤0.23nm，線分辨率=0.14nm

加速電壓：220kV放大倍率：50-150萬倍

最小束斑尺寸:TEM mode: 優于20nm　　EDS/NBD/CBD mode: 優于1.0nm

主要功能

及應用范圍

1. 適應高分辨率、快速檢測和圖像分析等各種應用需求

2.空間分辨顯微ATR技術，可鑒別小到3微米的樣品微區域

3.高靈敏度液氮冷卻MCT檢測器，適用于微弱官能團檢測，特別適合原位表面吸附的測定

4. 配備原位吸附反應池，適合做吡啶吸附紅外光譜圖，CO，CO2表面吸附紅外光譜圖

測試項目

  價格

備注

無機氧化物納米材料形貌觀察

180元/樣

含制樣、耗材，能譜+100元，電子衍射+100元

磁性無機氧化物納米材料形貌觀察

190元/樣

含制樣、耗材，電子衍射+150元，能譜+100元

磁性無機氧化物納米材料高分辨觀察

550元/樣

含制樣、耗材，電子衍射+150元，能譜+150元

金屬、陶瓷樣品離子減薄制樣

700元/樣

已預減到150微米以下

線掃

300元/樣

磁性樣品800元/樣

Mapping

450元/樣

掃描時間3小時左右，如樣品掃描時間較長，按600元/小時計費，磁性樣品800元/小時

免費制樣為普通碳膜銅網，微柵銅網制樣+20元，超薄碳膜制樣+30元